INSTEMS系列為用戶提供了7種原位TEM實驗平臺。其中包含三種單外場施加平臺，三種雙外場耦合平臺和一種三外場耦合平臺。三種單外場產品為INSTEMS-M（力學加載）、INSTEMS-E（電學加載）和INSTEMS-T（熱場加載）；三種雙外場耦合產品為INSTEMS-ME（力電耦合）、INSTEMS-TE（熱電耦合）和INSTEMS-MT（力熱耦合）；一種三外場耦合產品為INSTEMS-MET（力熱電耦合）。
產品介紹：
INSTEMS-ME可以實現多種模式的電學施加和高精度的電學測量。同時，可以根據不同的傾轉需求選擇不同驅動方式。該產品可實現拉伸、壓縮、彎曲等多種力學加載模式。借助于獨創的力電耦合模式，INSTEMS-ME完美保存了TEM樣品桿的雙軸傾轉功能，成為市場上首個可實現原子尺度力電耦合研究的實驗平臺。
突出優勢：
1、力場施加條件下高溫加熱能力
超寬加熱范圍( RT-1200 oC )
超高加熱精度( < 0.1 oC )
可程序化加熱
四探針測量
2、優異的電學施加和測量能力
多種通電程序
pA級電學測量
3、雙軸傾轉
α 軸傾轉最高至±25°
β 軸傾轉最高至±25°
4、穩定的原子尺度成像
極限樣品漂移＜50 pm/s
空間分辨率≤0.1 nm
技術指標：
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最大驅動力 |
100 mN |
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最大驅動位移 |
4 μm |
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驅動精度 |
< 500 pm |
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最大電壓 |
± 50 V |
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電流測量范圍 |
1 pA-1 A |
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空間分辨率 |
≤0.1 nm |
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EDS兼容性 |
√ |
應用領域：
壓電材料
鐵電材料
驅動/傳感
光電伏材料
鋰離子電池
納米器件
柔性電子器件
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創新點：
擁有pA等級的高精度電場測量，同時能實現7種電場加載模式應用，包括波形選擇與恒壓恒流模式等
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本文標題：百實創發布透射電子顯微鏡原位-原子尺度雙傾力電耦合系統新品
地址：http://www.oumuer.cn/yiqi/wandai1/7.html
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